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X4 POSEIDON 是優(yōu)良的高分辨率三維 X 射線成像系統(tǒng)，它建立在我們久負盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系統(tǒng)的成功基礎之上。

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。

三維X射線顯微鏡 （XRM）SKYSCAN 2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新納米級三維X射線顯微鏡（XRM），除了保留上一代SKYSCAN2214 ＜500nm的真正三維空間分辨率和多探測器配置（不超過4個）等*性能外，該設備在X射線源功率和探測器類型方面進行了多方面升級，以確保用戶能夠獲得更大的成像視野和更明亮的圖像數據。

微納米高分辨率CT-X射線顯微成像系統(tǒng)（3D-XRM，混凝土微觀分析）是布魯克推出的全新納米斷層掃描系統(tǒng)，是顯微 CT 技術領域的*，在為用戶帶來了終級分辨率的同時,提供優(yōu)質的用戶體驗。SKYSCAN 納米CT高分辨率線顯微成像系統(tǒng)（3D-XRM，混凝土微觀分析） 的每個組件都融入了全新的技術，使其成為當今市場上性能、適用性都廣泛的系統(tǒng)。

D8 DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀，也稱粉末衍射儀，帶有諸多前沿技術組件。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計。

D8 ADVANCE 粉末衍射儀是一種基于X射線衍射原理，用于分析粉末狀或多晶材料晶體結構的科學儀器。它通過測量X射線與樣品相互作用后產生的衍射圖譜，揭示材料的晶體結構、物相組成、晶格參數等關鍵信息。